IEC 62321-1、-2、-3-1、-3-2、-4和-5的2013版已通過最終國際標準版草案(FDIS) 階段，目前已正式公佈。
有關電子產品中特定有害物質測定的標準 - IEC 62321，概述了電子產品的測試方法，以確定產品中的有害化學物質濃度低於歐盟有害物質限制指令（RoHS）法律中制定的有害化學物質濃度。如同以往， 2008版的IEC 62321標準也經過了一段維護週期，現今再將最佳的操作和先進的技術引入測試程序，以確保實驗的一致性和可靠度，滿足標準的制定。
2013版的最主要變化在於將文件拆分成一系列標準，以利標準維護，同時導入新的測試方法或儀器，例如燃燒 - 離子層析儀(C-IC) 和冷蒸汽原子螢光光譜儀(CV-AFS)。
| IEC 標準 | 範圍 |
|---|---|
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62321-1 |
簡介和概述 |
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62321-2 |
樣品的拆卸、拆解和機械拆分 |
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62321-3-1 |
使用X射線螢光光譜儀對電子產品中的鉛、汞、鎘、總鉻和總溴進行篩選 |
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62321-3-2 |
使用C-IC對聚合物和電子產品中的總溴進行篩選 |
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62321-4 |
使用CV-AAS、CV-AFS、ICP-OES和ICP-MS測定聚合物、金屬和電子材料中的汞 |
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62321-5 |
使用AAS、AFS、ICP-OS和ICP-MS確定聚合物和電子材料中的鎘、鉛和鉻，以及金屬中的鎘和鉛 |
在完成上述系列標準之後，目前還有另外四分標準正處於不同草案編制階段;
PBB/PBDE (IEC 62321-6)、六價鉻 (IEC 62321-7-1和-2) 以及鄰苯二甲酸酯 (IEC 62321-8) 的測試方法。這些標準預計公佈日期如下:
2014年2月 - IEC 62321-6
2014年4月 - IEC 62321-7-1
2014年11月 - IEC 62321-7-2
2015年3月 - IEC 62321-8